Polar推出New Atlas Si-GHz PCB测试

 来源：万正科技   更新时间：2012/2/15   阅读次数：6320

       Polar Atlas软件使PCB制造商能够在严格控制的生产环境中测试PCB传输线损耗。Atlas采用数学处理技术，提取频率相关的损耗特性，与适当的测试取样片和Atlas精密GHz探头组件一起使用。
       Atlas软件接口行业标准为Tektronix DSA8200示波器TDR*。Atlas支持SET2DIL（单端TDR差分插入损耗）测试方法，用于来自单一测试和设计合理的取样片的差异化的插入损耗提取。

       Atlas屏
       在GH频率下，PCB传输线损耗的测量在成为本质上变得更具挑战性，为了提取精确的测量，需要考虑整个测量系统的信号完整性，从测量仪表通过信号电缆和探头互连，并最终通过结构测试试验板和测试轨迹本身。
       Atlas损耗测量系统
       Atlas软件设计用以辅助PCB制造商精确地和可重复地测量PCB生产环境中的PCB传输线损耗。
       Atlas软件设计用于带有80E04 TDR* 采样头和可选Polar CGen Si插入损耗取样片发生器的Tektronix DSA8200 TDR*。探头和接口电缆取决于你的OEM的指定，需要更多帮助请联系Neil Chamberlain。
       用户为SET2DIL测量采用Atlas应使用（2012年1月）GGB公司Picoprobe型40A-GSSG-450-TLD探头*（符合IPC规范。IPC-TM-650方法2.5.5.12A）。想了解更多有关探头和电缆在这方面的应用，请联系Neil Chamberlain。
       测试有损线路不像测试无损控制阻抗轨迹，无损控制阻抗轨迹的测量与系统上升时间不相关，有损线路测试意味着系统上升时间对质量高频率测量至关重要。Atlas跟踪系统上升时间，并监控系统带宽。Atlas使用数学方法在差分和单端终端PCB轨迹上来提取插入损耗。
       损耗测量的试验方法
       业界尚未决定损耗测量的通用方法，采用什么样的技术通常由OEM和制造商决定。Atlas包括插入损耗提取Polar方法，以及最近提出的SET2DIL方法，从单端信号终端测量提取差分插入损耗。
       新的高速硅系列，如Xaui，PCI Express Gen2.0，USB 3.0和其它高速芯片越来越多地施展高速差分信号技术。先进的信号处理被用于从PCB中在传输过程中信号能量损失最大的PCB轨迹的信号恢复。设计师需要确保损失保持在他们选择的芯片集的信号提取能力之内。这导致了行业对插入损失的持续测试能力的要求。
       Atlas GHz测试软件也能够进行传统的无损控制阻抗测试，但Polar推荐CITS900作为无损阻抗的主要解决方案。（快速上升时间用于测量多GHz速度的插入损失，意味着ESD控制需要在Atlas环境中保持最高水平，以减少运行成本——精密快速上升时间TDR取样头很敏感，容易被静电损坏）
 

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